Anfang Januar hat Intels Prozessentwicklungs-Labor in Hillsboro/Oregon erste funktionierende Testchips im 45-nm-Prozess (P1266) fertig gestellt. Dies berichtete Intels Entwicklungsleiter Mark Bohr in einer Telefonkonferenz. Der wichtigste Teil des auf 300-mm-Wafer gefertigten "Shuttle"-Testchips ist ein SRAM mit über einer Milliarde Transistoren und der Kapazität von 153 MBit, dessen Zellen mit 0,346 μm2 nur noch halb so groß sind wie die im aktuellen 65-nm-Prozess (P1264).
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Zum gleichen Thema gibt es inzwischen auch Artikel bei ComputerBase und bei COMPUTERWOCHE.de.
Der komplete Shuttle-Testchip in 45 nm, oben mit den beiden SRAMs:
300-mm-Wafer mit Shuttle-Testchips für die 45-nm-Produktionstechnik:
Dieser Beitrag wurde von swissboy bearbeitet: 26. Januar 2006 - 15:07